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1，如何看荧光光谱线

对于某一元素来说，原子吸收了光辐射之后，根据跃迁过程中所涉及的能级不同，将发射出一组特征荧光谱线。由于在原子荧光光谱分析的实验条件下,大部分原子处于基态，而且能够激发的能级又取决于光源所发射的谱线,因而各元素的原子荧光谱线十分简单。根据所记录的荧光谱线的波长即可判断有哪些元素存在，这是定性分析的基础。技术应用荧光谱线分布对共焦荧光显微镜分辨率的影响研究了荧光谱线分布对共焦荧光显微镜中分辨率的影响,导出了荧光谱线分布的荧光功率传输函数、三维脉冲响应函数.数值计算了荧光谱线均匀分布的情况,结果表明与采用单一中心荧光波长的分辨率比较,共焦荧光显微镜的横向分辨率、纵向分辨率随着荧光谱线范围和色散的增大而下降;谱线响应范围小的探测器有利于分辨率.
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如何看荧光光谱线

2，原子荧光光谱仪的基本原理

原子荧光光谱法是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下产生的荧光发射强度，来确定待测元素含量的方法。气态自由原子吸收特征波长辐射后，原子的外层电子从基态或低能级跃迁到高能级经过约10-8s，又跃迁至基态或低能级，同时发射出与原激发波长相同或不同的辐射，称为原子荧光。原子荧光分为共振荧光、直跃荧光、阶跃荧光等。发射的荧光强度和原子化器中单位体积该元素基态原子数成正比，式中：I f为荧光强度；φ为荧光量子效率，表示单位时间内发射荧光光子数与吸收激发光光子数的比值，一般小于1；Io为激发光强度；A为荧光照射在检测器上的有效面积；L为吸收光程长度；ε为峰值摩尔吸光系数；N为单位体积内的基态原子数。原子荧光发射中，由于部分能量转变成热能或其他形式能量，使荧光强度减少甚至消失，该现象称为荧光猝灭。

原子荧光光谱仪的基本原理

3，为什么荧光分析法的灵敏度比紫外可见分光光度法高

因为荧光分析法属于发光分析 只有待测物分子可以发出指定波长的荧光 紫外-可见分光光度法是吸光光度法 除待测物之外 其它物质也可能对入射光产生吸收 和波长没有关系我刚读研 做的就是荧光分析
因为荧光或磷光分析法是在入射光的直角方向测定荧光强度,即在黑背景下进行检测,因此可以通过入射光强度i或者增大荧光或者磷光信号的放大倍数来提高灵敏度,而紫外-可见法中测定的参数是吸光度,该值与入射光强度和透射光强度的比值相关,入射强度增大,透射光强度也随之增大,增大检测器的放大倍数也同时影响入射光和透射光的检测,因而限制了灵敏度的提高望采纳
这是由于荧光分析法是在入射光直角方向测定荧光强度，即在黑背景下检测，因此可以通过增加入射光强度来提高灵敏度，而紫外可见测定参数是A，该值与入射光强度和透射光比值有关，入射光增大，透射光也增大，增大检测器的放大倍数，也影响入射光和透射光的检测，因此限制了灵敏度
因为·入射光强的原因 在紫外-可见分光光度法中入射光强 吸收光强就增加 而荧光分析法中入射光强增加 不会影响吸收光强 所以A增加 灵敏度提高 第二是仪器结构不同紫外-可见分光光度法中是平行的 而荧光分析法是垂直的
据说是，紫外是由于电子从基态跃迁到激发态，是从稳态到不稳态，所以比较困难，灵敏度低；而荧光则是由激发态返回基态，从不稳态到稳态，大势所趋呀，所以容易测，即灵敏度高。按理说同一物质其紫外吸收波长和荧光发射波长应该是一致的，如果仪器好的话。 又，在另一本书上说，与紫外比，荧光是从与入射光垂直方向检测，即在黑背景下检测荧光的发射，所以一般荧光分析的灵敏度比紫外高2~4个数量级。

为什么荧光分析法的灵敏度比紫外可见分光光度法高

4，xrf测试结果中net是什么意思

XRF里的NET是净强度的意思，net的形容词意里有“纯粹的，净余的”另外，浓度计算的根源是光的强度表征为谱峰的积分面积，所有的处理方法只是为了在去除干扰的情况下选择合适的线（ka,kb,la,lb...)，大多数情况下设备厂家提供的软件只是简单的方法，具体还有根据实际情况，选择合适的谱峰及位置来进行积分计算。
xrf:x射线荧光光谱分析(x ray fluorescence) 　　人们通常把x射线照射在物质上而产生的次级x射线叫x射线荧光（x—ray fluorescence），而把用来照射的x射线叫原级x射线。所以x射线荧光仍是x射线。 　　一台典型的x射线荧光（xrf）仪器由激发源（x射线管）和探测系统构成。x射线管产生入射x射线（一次x射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次x射线，并且不同的元素所放射出的二次x射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次x射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。x射线照在物质上而产生的次级 x射线被称为x射线荧光. 　　利用x射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为11号元素 （na）到92号元素（u）。rohs指令限制使用以下六类有害物质 ：rhos指令核心内容：自2006年7月1日起，投放到欧盟市场上的 新电子电器设备不得含有如下有害物质四种重金属 铅（pb）,镉（cd）,汞（hg）,六价铬（cr6+）两类溴化阻燃剂 多溴联苯(pbbs) （1-10） 多溴联苯醚（pbdes)（1-10）具体明细如下： 　　1 水银（汞） 使用该物质的例子：温控器、传感器、开关和继电器、灯泡 　　2 铅 使用该物质的例子：焊料、玻璃、pvc稳定剂 　　3 镉 使用该物质的例子：开关、弹簧、连接器、外壳和pcb、触头、电池 　　4 铬（六价） 使用该物质的例子：金属附腐蚀涂层 　　5 多溴联苯（pbb）使用该物质的例子： 阻燃剂，pcb、连接器、塑料外壳 　　6 多溴二苯醚（pbde） 使用该物质的例子：阻燃剂，pcb、连接器、塑料外壳
XRF---X-射线荧光光谱仪看你的描述你的报告应该是荧光+湿化学模式的报告。报告中的Pb应该是湿化学的结果。两种情况：1.荧光扫描的过程中可能会有干扰的情况发生，这样就是始XRF的测试结果出现误差，而始Pb超标 2.样品Pb豁免。客户提供声明后，SGS会给合格的结论

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