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1，比QT2更好的晶体管测试仪有哪些

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2，晶体管特性仪是一种用示波管显示晶体管的并可测仪器 搜

晶体管特性图示仪它是一种能对晶体管的特性参数进行测试的仪器。
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3，lcrt4 图形化 晶体管测试仪怎么样

晶体管测试仪适合个人使用 单个测试 逐一调整参数 测量准确 价格便宜 但是效率低 图示仪 需要示波管 或者接在示波器上用 价钱贵 但是管子性能一目了然 适合工厂批量检测产品 测试效率高 但是参数误差大
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4，m328晶体管测试仪T一T3测什么用

本测试仪性能稳定，能自动读出准确数据，使用方便，适用于电子爱好者、电子开发者、设计者、与电子维修者必需小仪器。它可测各种二极管，三极管，可控硅，MOS场效应管；能判断器件类型，引脚的极性，输出HFE，阀电压，场效应管的结电容，附加条件可测电容和电阻等。特别适合晶体管配对和混杂表贴元件识别。晶体管的应用为电子电器的发展提供了有利的保障，而晶体管在使用的时候怎样确保其能够正常的使用，便需要使用到晶体管图示测试系统，在使用晶体管图示测试系统的过程中，为保证仪器的合理使用，既不损坏被测晶体管，也不损坏仪器内部线路，

5，哪里购买高频小功率晶体管Ft测试仪ABH30型厂家直销

可用：TH2817型LCR数字电桥QG24型高频小功率晶体三极管FT测试仪TOS220示波器高频小功率晶体管ft测试仪高频小功率晶体三极管fT测试仪系列概述本系列是利用“带宽一增益乘积”原理测量高频小功率晶体三极管特征频率的全晶体管化专用设备.测量频率分别为：10MHz、30MHz、.仪器可兼测各频率下的β.本系列仪器中,采用晶体控制点频振荡器作为信号源.10MHz、30MHz点频仪器采用高增益、低噪声选频放大器作指示系统,因而工作很稳定.在本系列仪器中,采用了薄膜工艺制作部乘衰减器,整机和测试回路也采取了相应的技术、工艺措施,使台差、重复性得到改善,测量误差得以减少.本系列各点频呈独立单机,可以单独购置和使用.适合各研究单位、学校、半导体器件厂,电视机、收音机制造厂和有关整机厂作产品检验,器件研究和线路试验之用.工作条件（1）环境-10℃~+40℃（2）相对湿度：≤80%（40℃）（3）大气压力：（650~800）mmHg（4）外电磁场：应避免（5）工作位置：水平放置（仰角≤10°）技术性能型号项目QG23型QG24型测量频率（MHz）1030fT测量额定范围（MHz）10~10030~300fT测量有效范围（MHz）20~8060~240fT测量工作误差≤±7%≤±7%β测量额定范围3030β测量有效范围10~3010~30β测量工作误差≤±7%≤±7%偏压源范围（V）0.300.30电压指示误差≤±1.5%≤±1.5%偏流源范围（mA）0.1000.100电流指示误差≤±2%≤±2%B、E开路电压（V）≤±2.5≤±2.5整机校准稳定误差≤±2×10-2/小时≤±2×10-2/小时供电电源：220V±10%50Hz±4%单机消耗功率：≤30W单机外形尺寸：560×144×360（mm）3单机重量：14Kg

6，晶体管测试仪保养项目

主要用途： 本测试仪性能稳定，能自动读出准确数据，使用方便，适用于电子爱好者、电子开发者、设计者、与电子维修者必需小仪器。它可测各种二极管，三极管，可控硅，MOS场效应管；能判断器件类型，引脚的极性，输出HFE，阀电压，场效应管的结电容，附加条件可测电容和电阻等。特别适合晶体管配对和混杂表贴元件识别。 晶体管的应用为电子电器的发展提供了有利的保障，而晶体管在使用的时候怎样确保其能够正常的使用，便需要使用到晶体管图示测试系统，在使用晶体管图示测试系统的过程中，为保证仪器的合理使用，既不损坏被测晶体管，也不损坏仪器内部线路，在使用仪器前应注意下列事项：　　①使用仪器前，应检查仪器有关旋钮位置， “测试选择”　　开关置于“关”， “峰值电压”旋钮调至零， “阶梯作用”置于“关”。　　②开启电源，指示灯亮，预热5min。调整“标尺亮度”，观察时用红色标尺，摄影时用黄色标尺。调整“辉度”，使屏幕上光点和线条至适中的亮度。调整“聚焦”及“辅助聚焦”　　旋钮，使屏幕上显示清晰的线条或亮点。　　③进行基极阶梯信号调零。将光点移至屏幕左下角作为坐标零点，进行基极阶梯信号调零。当荧光屏上出现基极阶梯信号后，按下测试台上的“零电压”键，观察光点停留在荧光屏上的位置。复位后调节“阶梯调零”旋钮，使阶梯信号的起始级光点仍在该处，则基极阶梯信号的零位即被校准。　　④根据被测管的类型(PNP型或NPN型)和接地形式(E接地或B接地)，选择“极性”开关位置，然后插上被测晶体管。　　⑤根据需要显示的醢线和需要测试的参数，选择相应的作用开关以及合适的量程，即可进行有关图形显示和参数测定。晶体管图示测试系统在运用的过程中：　　a.测试时逐渐加大峰值电压，即可得到输出特性曲线。在测试中，由于晶体管的离散性较大，其输出特性曲线可能会超出屏幕坐标，此时可将Y轴作用开关置于其他挡位。由于输出特性曲线可以反映被测管特性的全貌，因此，可依此对晶体管性能的优劣迅速作出判断。　　h.测量晶体三极管的h FE值。连接方法与调整同上，调整仪器的开关旋钮置于适当位置，即可得到k与，。关系的一条直线，根据^匝= A/C/A/B可求得晶体管的hFF值。　　c.观察晶体三极管的输入特性曲线。使用晶体管特性图示仪观察晶体三极管的输入特性曲线的连接方法与调整同上。测试时，逐渐加大峰值电压，可得到晶体三极管的输入特性曲线。读出工作点Q处的基极电压UBE和基极电流厶的值，可得到输入电阻R。：尘UBE巩。：SVA/B(3)在操作使用JT-1型晶体管图示仪时，要注意以下几点。　　总结：晶体管图示测试系统在使用的过程中应该遵从以上事项，并且仪器在长时间的使用中，由于元件老化和变值，有可能引起一定的误差，因此需要大家进行定期计量和维修。

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