选区电子衍射，选区电子衍射的形成

1，选区电子衍射的形成

发散的

选区电子衍射的形成

2，sad线是什么意思

SAD选区电子衍射sad线（选区电子衍射线）

sad线是什么意思

3，选区电子衍射的介绍

选区电子衍射(SAED,selected area electron diffraction)由选区形貌观察与电子衍射结构分析的微区对应性，实现晶体样品的形貌特征与晶体学性质的原位分析。

选区电子衍射的介绍

4，什么是光缆选区衍射

光阑选区衍射是是通过物镜象平面上插入选区光阑限制参加成象和衍射的区域来实现的。另外，电镜的一个特点就是能够做到选区衍射和选区成象的一致性。选区衍射操作步骤：为了尽可能减小选区误差，应遵循如下操作步骤： 1. 插入选区光栏，套住欲分析的物相，调整中间镜电流使选区光栏边缘清晰，此时选区光栏平面与中间镜物平面生重合； 2. 调整物镜电流，使选区内物象清晰，此时样品的一次象正好落在选区光栏平面上，即物镜象平面，中间镜物面，光栏面三面重合； 3. 抽出物镜光栏，减弱中间镜电流，使中间镜物平面移到物镜背焦面，荧光屏上可观察到放大的电子衍射花样 4. 用中间镜旋钮调节中间镜电流，使中心斑最小最园，其余斑点明锐，此时中间镜物面与物镜背焦面相重合。 5. 减弱第二聚光镜电流，使投影到样品上的入射束散焦（近似平行束），摄照（30s左右）

5，如何测量选区电子衍射两点之间的距离

视距测量是利用经纬仪、水准仪的望远镜内十字丝分划板的上的视距丝在视距尺（水准尺）上读数，根据光学和几何学原理，同时测定仪器到地面点的水平距离和高差的一种方法。这种方法具有操作简便、速度快、不受地面起伏变化的影响的邮点，被广泛应用于碎部测量中。但其测距精度低，约为：1/200-1/300。一、视距测量原理 1．视线水平时的距离与高差公式欲测定A、B两点间的水平距离D及高差h，可在A点安置经纬仪，B点立视距尺，设望远镜视线水平，瞄准B点视距尺，此时视线与视距尺垂直。求得上，下视距丝读数之差"l"。上，下丝读数之差称为视距间隔或尺间隔。 S=100l 2．视线倾斜时的距离与高差公式在地面起伏较大的地区进行视距测量的，必须使视线倾斜才能读取视距间隔。由于视线不垂直于视距尺，故不能直接应用上述公式。要用S=Kl（cosa）^2 K:视距乘常数；a：视线竖直角

6，电子衍射的方法

1、如表面科学中的低能电子衍射（LEED），主要应用于高取向晶体表面晶格的研究，比如畸变，吸附。LEED结构也应用在透射电子显微镜（TEM）中，利用聚焦到很小光斑的电子束对纳米结构中的局域有序做结构探测。LEED只能够作晶格类型分析，不能进行元素分析。2、反射式高能电子衍射（RHEED），主要应用于分子束外延等设备的原位监测，能够很好的反映表面晶格的平整度，观测材料生长中的衍射强度及位置的振荡。3、电子显微镜附件，主要是场发射扫描电子显微镜（FESEM），一般属于附件，称选区电子衍射（SAD），可以利用质能选择器对反射电子作元素分析，能够分析很小的区域元素组成，但结果较为粗糙。电子衍射的原理可以参考XRD，观测到的衍射花纹都是表面晶格的倒易格点，可能是一套，也可能是几套。一般，除了纳米材料研究中在电镜用电子衍射中常将衍射花纹作为晶格类型的佐证外，常规的LEED和RHEED并不作体材料三维晶格研究，而只用于表面晶格的判定，因为电子衍射一般只能反映晶格的二维表面结构，而不同晶体结构的晶体之间，它们的某一表面取向上它的对称性及衍射斑点可能会完全一致。电子衍射一般只用于测试二维晶体结构，无法简单作三维体晶格判定，更无法单独作元素判定。所以你所说的ED测定晶格的说法是要注意的，ED很少或几乎没有单独研究三维晶体结构。电子衍射结构其实很简单，简单讲就三个部件：1、灯丝，用于产生电子2、加速电压，⑴ 电子加速电压（电压大小要单独可控）⑵ xy平面内的转向电压3、荧光屏，注意导电接地。此外电子衍射还需要有一个超高真空腔体作为设备的基础；还要有一个位置可调的多维样品架（样品台）系统；如果需要做衍射斑点位置亮度分析，还要有CCD图像采集系统。

电子衍射原理是德布洛意波，应用有晶体衍射可研究晶体的原子分布。

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