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1，用X射线光电子能谱怎么确定元素价态

因为原子周围的电子处于不同的价态时所拥有的能量不同，受电子激发时所许能量也就不同，电子跃迁时就会有不同的现象发生，根据不同的现象来判断它的价态。这只是我根据自己学得的东西作出的推论，希望你可以问问你的老师！

用X射线光电子能谱怎么确定元素价态

2，光电子能谱可以测聚合物复合薄膜吗

X射线光电子能谱，具有很高的能量，但是只能穿透表面的几层原子层，主要是用来表征材料表面的化学环境的，如果你的复合膜表面能有足够多的信息是没有问题的，制样的方法同扫描电镜对薄膜样品的制备类似望采纳
或许可以。

光电子能谱可以测聚合物复合薄膜吗

3，x射线光电子能谱的XPS系统结构原理

X射线源是用Al或Mg作阳极的X射线管。 它们的光子能量分别是1486eV和1254eV 。 安装过滤器（或称单色器）是为了减小光子能量分散。 离子枪的作用一方面是为了溅射清除样品表面污染，以便得到清洁表面，从而提高其分析的准确性。 另一 方面，可以对样品进行溅射剥离，以便分析不同深度下样品的成份。　　样品室内的样品架安装有传动机构，不但可以做x，y和z三个互相垂直方向的移动。还可沿某一坐标轴作 一定角度的旋转。这样便于观察分析研究样品不同部位的情况。电子能量分析器是X射线光电子能谱仪的关键组成部分。它 的作用是测 量电子能量分 布和不 同能量 电子的相对强度。电子能量分析器和电子倍增器系统完全由微型电子计算机控制。

x射线光电子能谱的XPS系统结构原理

4，光电子能谱的分类

根据光源的不同，光电子能谱可分为:1、紫外光电子能谱UPS（Ultroviolet Photoelectron Spectrometer）；2、X射线光电子能谱XPS(X-Ray Photoelectron Spectrometer ）3、俄歇电子能谱AES(Auger Electron Spectrometer)。X射线光电子能谱法：用来（定性）分析原子在化合物中的价态，和化合形态。仪器简单，光谱解析简单。紫外光电子能谱法：分析价层轨道里的电子的能量和作用。可以获得很多关于分子的稳定性，反应性等信息。但是由于电子的跃迁和振动能级有作用，和分子对称性相关极为紧密。图谱解析复杂。仪器要求较高。Auger电子能谱法：属于二次电子能谱法。多用于对固体，或凝聚态物质进行元素和价态的分析。图谱简单，仪器要求较高。常用来和X射线光电子能谱,荧光光谱，互补联合使用。

5，X射线光电子能谱在材料结构表征方面有何应用

一引言面对市场对低成本、高效益、环保型能源急剧增长的需求,作为功能强大的元件,薄膜太阳电池和燃料电池有助于解决这个问题。为确保这些元件能够正常工作,在整个研发流程中对其进行表征分析具有至关重要的意义。因此,我们需要一种切实可行的测试方法,既能准确确认元件表面结构具有均一性,也能精确测出薄膜厚度以及分层化学性。这样,就可保证产品的可行性与功能性。一般而言,薄膜太阳电池和燃料电池的生产均采用结构长度单位为“纳米”的材料。因此,我们必须应用一项与这种材料尺寸相适应且不会影响分析精确度的技术。此外,薄膜太阳电池和燃料电池最常见的生产方式是在基材上沉积出一种含有导电、半导电以及绝缘材料层的混合物。由于每一层材料都具有独特的物理、化学和电学特性,则必须采用一种能够满足此类复杂材料分析要求的测试方法。X射线光电子能谱仪(XPS)即是一种行之有效的方法,它甚至可满足最苛刻的表面分析要求。这项技术能够提供极高的表面灵敏度,对尺寸在纳米范围内的薄膜太阳电池和燃料电池能够进行精确表征。此外,它还能在一次分析过程中同时分析不同类型的材料。

6，X射线荧光光谱仪分析原理

X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放产生二次X射线（即X荧光），并且不同的元素所放射出的二次X射线（X荧光）具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线（X荧光）的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。 测出X荧光射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是X荧光射线定性分析的基础。 此外,X荧光射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
原子在收到电子束后者X射线的激发后，原子外层的电子会产生荧光光谱，一般是nm级别的。然后就是棱镜分光，检测器接受，根据接受信号强弱，分析含量。
x射线光电子能谱分析 x射线光电子能谱法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析领域中是一种崭新的方法。虽然用x射线照射固体材料并测量由此引起的电子动能的分布早在本世纪初就有报道，但当时可达到的分辩率还不足以观测到光电子能谱上的实际光峰。直到1958年，以siegbahn为首的一个瑞典研究小组首次观测到光峰现象，并发现此方法可以用来研究元素的种类及其化学状态，故而取名“化学分析光电子能谱（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）。目前xps和esca已公认为是同义词而不再加以区别。 xps的主要特点是它能在不太高的真空度下进行表面分析研究，这是其它方法都做不到的。当用电子束激发时，如用aes法，必须使用超高真空，以防止样品上形成碳的沉积物而掩盖被测表面。x射线比较柔和的特性使我们有可能在中等真空程度下对表面观察若干小时而不会影响测试结果。此外，化学位移效应也是xps法不同于其它方法的另一特点，即采用直观的化学认识即可解释xps中的化学位移，相比之下，在aes中解释起来就困难的多。 1 基本原理 用x射线照射固体时，由于光电效应，原子的某一能级的电子被击出物体之外，此电子称为光电子。 如果x射线光子的能量为hν，电子在该能级上的结合能为eb，射出固体后的动能为ec，则它们之间的关系为： hν=eb+ec+ws 式中ws为功函数，它表示固体中的束缚电子除克服各别原子核对它的吸引外，还必须克服整个晶体对它的吸引才能逸出样品表面，即电子逸出表面所做的功。上式可另表示为： eb＝hν-ec-ws 可见，当入射x射线能量一定后，若测出功函数和电子的动能，即可求出电子的结合能。由于只有表面处的光电子才能从固体中逸出，因而测得的电子结合能必然反应了表面化学成份的情况。这正是光电子能谱仪的基本测试原理。

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